膜厚と屈折率の測定サービスのご案内
株式会社ユーレカは、世界初のユニークな2次元エリプソメータ(表面検査装置)であるQRシリーズとHRシリーズの2機種により、これまで、主に半導体メーカー様、フィルムメーカー様よりの200種類以上のサンプルの測定と表面解析を行ってまいりました。
QRシリーズは、サンプル面内の大域的な膜厚屈折率分布を一括測定することをコンセプトにしています。
QR400Kは、200mmウエハー全面を100μmの細かさで約30万点ずつ3回で測定します。
HRシリーズは、サンプルのミクロの膜特性を観察することをコンセプトにしています。
HR4000Kは、300mmウエハーの任意の約3mm角の箇所内の140万点を2μmの細かさで一括測定します。
測定箇所はXYステージによってスキャンします。また、結晶方位に依存するサンプルなどの場合、ステージを回転させて入射方向を変えながら測定することもできます。
このたび、HRシリーズによる有償サンプル測定サービスを開始いたしましたので、どうぞご利用ください。
測定内容 |
誘電体および金属薄膜などの表面の2次元的測定 |
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解析内容 |
薄膜の屈折率、膜厚の測定と2次元的分布 |
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欠陥解析 |
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表面粗さ |
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界面の分析 |
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サンプル例 |
シリコン酸化膜、窒化膜 |
Low−k,High−k膜 |
化合物半導体 |
SOI |
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MEMS |
金属薄膜 |
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金属酸化膜 |
フォトレジスト |
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各種透明な有機膜 |
DNAチップ |
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上記のパターンつきサンプル |
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測定条件 |
測定波長 |
457.9nm |
入射角 |
50−72° |
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1画面の測定点数 |
約1,000,000 |
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面内分解能 |
3μm |
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サンプル条件 |
サンプルサイズ |
ご相談ください |
厚み |
トータルの厚み2mm以下 |
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平坦度 |
十分な平坦度を要します |
【サンプルについてのご留意点 】
【お問い合わせからご検収までの流れ 】
お客様 |
@ご依頼内容のご照会 |
Bサンプルご送付 |
E測定データのご確認 |
Fご検収 |
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↓ |
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ユーレカ |
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Aシュミレーション 測定可能性のご回答 |
C測定、計算、解析 |
D測定結果のご報告 |
G測定データの消去 |
【測定料金 】
基本料金 |
\80,000 / サンプル |
付加料金 |
\10,000 / 画面 |
サンプル測定サービスに関するご質問・ご相談などがございましたら、下記までお問い合わせください。
株式会社 ユーレカ
〒289-2166千葉県匝瑳市新7-1
TEL: 0479-74-8741
FAX:0479-74-8742
E-mail: sales@heureka.co.jp